Shanghai Institute of Optique ak machin presizyon (SIPM) fè pwogrè nan anti-sonans Hollow-core Fibre Raman Sond ak bri background ki ba.

Dènyèman, yon ekip rechèch ki soti nan sant rechèch espesyal vè ak fib, Depatman avanse lazè ak optoelektwonik materyèl fonksyonèl, Shanghai Enstiti optik ak machin presizyon, Chinwa Akademi Syans (SIPM) te fè pwogrè nan jaden an nan sond Raman pou background ki ba. bri lè l sèvi avèk de kalite fib doub-devlope pwòp tèt ou-devlope anti-resonan hollow-core fibre (AR-HCF), ki te fèt ak fabrike nan kay la. fib debaz (AR-HCFs) ak modil optik ekstèn pou elaji fonksyonalite komèsyal Renishaw Invia mikwoskòp konfokal Raman espektwomèt epi ajoute deteksyon an plas. Rezilta yo rezime kòm "In-situ background-gratis sond Raman lè l sèvi avèk doub-cladding anti-Rezilta yo te pibliye nan byomedikal Optics Express anba tit la "In-situ background-gratis Raman sond lè l sèvi avèk doub-cladding anti-sonan fib twou kre. ".
Konvansyonèl kwatz solid-nwayo fib optik yo lajman itilize kòm sond pou deteksyon Raman paske yo se mwayen ideyal pou siyal optik akòz pèt ki ba yo ak fenèt transmisyon lajè. Aplikasyon li yo, byenke li ka gratis nan limit fòm echantiyon, gwosè, ak pozisyon, pwòp materyèl vè kwatz li yo reyaji ak lazè ponp lan pou jenere yon siyal bri background trè fò, ki gen tandans maske enfòmasyon espèk Raman echantiyon an. yo dwe teste. Nan rapò rechèch sot pase yo, solisyon endikap la se sèvi ak yon pwofonde milti-fib, ki sèvi ak fib diferan pou fè limyè eksitasyon an ak kolekte limyè siyal la. Sepandan, solisyon sa a mande tou adisyon eleman optik tankou filtè nan fen distal fib optik la, ki pa sèlman diminye efikasite koleksyon siyal la, men tou, ogmante gwosè pwofonde a.
Chèchè yo fabrike de diferan doub-CLAD AR-HCFs lè l sèvi avèk metòd la pile-ak-trase, seksyon transvèsal yo ki montre nan Figi 1. Tou de nan yo ka limite limyè a lazè yo dwe fèt sitou nan nwayo a kre, ki anpil. diminye sipèpoze nan jaden an limyè ak materyèl la kwatz nan fib nan tèt li, kidonk anpil siprime bri nan background kwatz. Apre tès pèfòmans yo, de sond fib yo ka reyalize apeprè de lòd nan mayitid kwatz soupwesyon bri background konpare ak fib kwatz tradisyonèl solid-nwayo yo. Tou de AR-HCF yo te fèt espesyalman pou reyalize pèt ki ba nan bann vizib ak tou pre-enfrawouj yo epi yo gen yon gwo ouvèti nimerik (ouvèti nimerik, NA) nan CLADDING ekstèn lan (NA nan CLADDING ekstèn lan pi gran pase {{8} }.2, ki se anviwon dis fwa sa de base fibre). Travay sa a karakterize pa sèvi ak yon sèl fib optik kòm yon pwofonde pou deteksyon Raman, ak pa itilizasyon yon modil ekstèn chemen optik ki fèt espesyalman pou reyalize sond la ansanm ak yon espektwomèt konfokal mikwo-Raman Renishaw Invia ki disponib nan komès, kòm montre nan Fig. 2. Modil la konekte ak koòdone orijinal lantiy objektif la nan espektwomèt la, ki ka koup limyè eksitasyon ki emèt anndan an nan AR-HCF yo, epi li ka transmèt tou siyal Raman kolekte pa pwofonde fib-optik la tounen nan. espektwomèt la pou deteksyon ak analiz. Li kapab tou elaji fonksyon li nan deteksyon in-situ pandan y ap jwe karakteristik segondè presizyon deteksyon enstriman an. Se posiblite a nan konplo a verifye tou pa deteksyon an nan kèk echantiyon solid ak likid lè l sèvi avèk sond la, tankou deteksyon an plas nan plastik ABS, jan yo montre nan Figi 3. Rezilta yo espere gen pi laj kandida aplikasyon nan siveyans anviwònman an. , byomedikal ak lòt jaden.

Fig. 1 Foto mikwoskòp elèktron fen-fas de fib optik kre-nwayo anti-sonans yo montre nan (a) ak (b), respektivman, pandan ke (c) ak (d) montre foto de yo te pran pa ekleraj nan yon. mikwoskòp optik, respektivman.

Fig. 2 Dyagram chema nan chemen an optik konplo deteksyon Raman.

Figi 3 Figi (a) ak (b) montre rezilta espèk Raman nan de kalite fib optik kre-nwayo anti-resonans yo itilize kòm sond pou detekte plastik ABS, respektivman, kote koub zoranj la jwenn nan echantiyon an mezire pa pwofonde a. , koub ble a se siyal background nan pwofonde nan tèt li, ak koub jòn se spectre yo jwenn nan echantiyon an mezire pa Renishaw Invia mikwoskòp konfokal Raman espektromèt dirèkteman.